Ministerpräsident Li Qiang sagte am Mittwoch, dass Chinas Entschlossenheit, die Fertigungsindustrie weiterzuentwickeln, weiterhin unerschütterlich sei, und forderte größere Anstrengungen zum Aufbau des Sektors durch die Förderung seiner High-End-Entwicklung durch intelligente und umweltfreundliche Technologien.
Li machte diese Bemerkungen, als er ein Seminar über die Entwicklung fortschrittlicher Fertigung leitete, nachdem er einen zweitägigen Besuch in der Provinz Hunan zu Untersuchungs- und Forschungszwecken abgeschlossen hatte.
Nachdem er den Leitern von acht Unternehmen aus dem ganzen Land zugehört hatte, sagte Li auf dem Seminar, dass die Realwirtschaft, insbesondere die verarbeitende Industrie, als Grundlage der chinesischen Wirtschaft angesehen werde.
Er sagte, dass Chinas Fertigungssektor angesichts der komplizierten und tiefgreifenden Veränderungen der Situation im In- und Ausland an einem entscheidenden Scheideweg angelangt sei.
Es sei wichtig, mehr Eigenständigkeit und Stärke in Wissenschaft und Technologie zu erreichen, die traditionelle Fertigungsindustrie aufzuwerten und aufstrebende Industrien von strategischer Bedeutung zu fördern, sagte Li.
Nichtlinearer Verbindungsdetektor
Der nichtlineare Übergangsdetektor „HW-24„ dient zur Suche und Lokalisierung elektronischer Geräte sowohl im aktiven als auch im ausgeschalteten Zustand.
Er ist mit den meisten gängigen Modellen nichtlinearer Sperrschichtdetektoren äußerst konkurrenzfähig.Es kann sowohl im Dauer- als auch im Impulsmodus betrieben werden und verfügt über eine variable Leistungsabgabe.Die automatische Frequenzauswahl ermöglicht den Betrieb in komplexer elektromagnetischer Umgebung.
Der Detektor erzeugt eine Reaktion bei der 2. und 3. Harmonischen, wenn er von einem HF-Prüfsignal abgestrahlt wird.Halbleiterkomponenten künstlichen Ursprungs weisen auf der zweiten Harmonischen einen höheren Pegel auf, während korrosive Halbleiterkomponenten künstlichen Ursprungs jeweils auf der dritten Harmonischen einen höheren Pegel aufweisen.Ein "HW-24„analysiert die Reaktion der 2. und 3. Harmonischen der abgestrahlten Objekte, was eine schnelle und zuverlässige Identifizierung elektronischer Geräte und korrosiver Halbleiter ermöglicht.
Zeitpunkt der Veröffentlichung: 23. März 2023
